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本发明公开了一种用于相变存储器的稀土Er掺杂Ge2Sb2Te5薄膜材料及其制备方法,特点是其化学结构式为(Er)x(Ge2Sb2Te5)100‑x,其中0< x≤1.4,制备方法具体步骤为:将稀土Er靶材安装在磁控直流溅射靶中,控制Er靶的溅射功率为0‑4W,合金Ge2Sb2Te5靶的溅射功率为70‑78W,于室温下溅射镀膜,溅射100nm,即得到沉积态的Er掺杂Ge2Sb2Te5相变存储薄膜材料;优点是该薄膜材料具有单一稳定的面心立方结构相,具有较高结晶温度,较大的晶态电阻,较大非晶态与晶态之间明显的电阻差异,较好的热稳定性。