浓度分析仪

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本发明公开了一种浓度分析仪，包含Ba-133放射源、铅皮、半导体探测器和工控机，所述半导体探测器包括半导体晶体、阴极、阳极和至少一个阶梯电极，所述半导体晶体包括顶面、底面和至少一个侧面，所述阴极设于所述底面上，所述阳极设于所述顶面上，所述阶梯电极设于至少一个所述侧面上。本发明采用在线分析，给工艺人员提供了及时的槽体信息，充分发挥萃取槽对稀土分离能力，提高产品产量和合格率。