一种基于荧光谱线增宽机制的荧光强度比测温方法

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一种基于荧光谱线增宽机制的荧光强度比测温方法，本发明涉及一种基于荧光谱线增宽机制的荧光强度比测温方法。本发明是要解决现有荧光强度比测温技术中测温灵敏度和测温准确性低的问题，方法为：405nm发光二极管发出的近紫外光经过凸透镜汇聚照射到Eu3+掺杂感温材料上，Eu3+掺杂感温材料所发射的荧光通过凸透镜汇聚入射到成像光谱仪中，光谱仪连接计算机进行数据处理，建立谷峰值荧光强度比温度曲线，校准，然后将Eu3+掺杂感温材料置于待测温度场，监测感温材料发射的荧光，对比谷峰值荧光强度比温度曲线。本发明在较宽的温度范围内具有适合的灵敏度，测温范围较广，不用频繁的更换感温材料。本发明应用于稀土荧光测温领域。