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氧化物半导体膜、薄膜电晶体、氧化物烧结体及溅镀靶 发明申请

2023-01-30 2820 16651K 0

专利信息

申请日期 2025-06-25 申请号 TW107105954
公开(公告)号 TW201833062A 公开(公告)日 2018-09-16
公开国别 TW 申请人省市代码 全国
申请人 日本商出光兴产股份有限公司
简介 An oxide semiconductor film which contains In, Ga and Sn at atomic ratios expressed by formula (1) 0.01 ≤ Ga/(In + Ga + Sn) ≤ 0.30, formula (2) 0.01 ≤ Sn/(In + Ga + Sn) ≤ 0.40 and formula (3) 0.55 ≤ In/(In + Ga + Sn) ≤ 0.98, while containing a rare earth element X at an atomic ratio expressed by formula (4) 0.03 ≤ X/(In + Ga + Sn + X) ≤ 0.25.


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