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一种提高荧光强度比技术测温精度的方法 发明申请

2023-06-19 4170 449K 0

专利信息

申请日期 2025-07-09 申请号 CN201810241003.2
公开(公告)号 CN108489632A 公开(公告)日 2018-09-04
公开国别 CN 申请人省市代码 全国
申请人 哈尔滨工业大学
简介 一种提高荧光强度比技术测温精度的方法,本发明涉及一种提高荧光强度比技术测温精度的方法。本发明的目的是为了解决目前常用的荧光强度比技术测温精度较低的问题,具体的内容包括:(1)选取稀土离子热耦合能级对;(2)利用分段拟合的方法对这两个荧光带的强度比值进行标定,再利用玻尔兹曼热统计分布理论对荧光强度比值和温度之间的关系进行拟合,每个温度区间均得到一个拟合函数;(3)根据适合的拟合函数计算待测温度值。本发明利用分段拟合的思想能够将测温精度提高至少一个数量级。本发明能够切实解决荧光强度比技术中传统的整体拟合方法测温精度较低的弊端,显著提高荧光强度比技术的测温精度,本发明应用于稀土荧光测温领域。


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