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一种提高半导体氧化物薄膜偏压热稳定性的方法 发明申请

2023-09-29 3270 686K 0

专利信息

申请日期 2025-07-23 申请号 CN201810272304.1
公开(公告)号 CN108461389A 公开(公告)日 2018-08-28
公开国别 CN 申请人省市代码 全国
申请人 华南理工大学
简介 本发明提供了一种提高半导体氧化物薄膜偏压热稳定性的方法。所述方法包括如下步骤:(1)将半导体氧化物的盐、稀土盐、任选地乙醇胺、任选地醋酸和任选地燃料溶于乙二醇单甲醚中,静置老化,得到前驱体溶液;(2)将步骤(1)得到的前驱体溶液涂覆于基材上,先前烘退火,再后烘退火,得到半导体氧化物薄膜。本发明通过在半导体氧化物薄膜中掺杂稀土元素,钝化了在退火过程中残留的有机杂质,从而提高了薄膜的偏压热稳定性。


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