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薄膜晶体管、半导体基板和X射线平板探测器 发明申请

2023-01-28 4710 1958K 0

专利信息

申请日期 2025-07-07 申请号 CN202180001030.2
公开(公告)号 CN114175271A 公开(公告)日 2022-03-11
公开国别 CN 申请人省市代码 全国
申请人 京东方科技集团股份有限公司
简介 一种薄膜晶体管(TFT)包括:栅极(170)、有源层(SL)、位于栅极(170)和有源层(SL)之间的栅极绝缘层(160)、以及电连接到所述有源层(SL)的源极(181)和漏极(182)。有源层(SL)包括在堆叠方向上重叠设置的沟道层(CL)和至少一个沟道保护层(PL1;PL2),沟道层(CL)和至少一个沟道保护层(PL1;PL2)每个的材料均为金属氧化物半导体材料。至少一个沟道保护层(PL1;PL2)为结晶层,且至少一个沟道保护层(PL1;PL2)的金属元素包括非稀土金属元素,所述非稀土金属元素包括In、Ga、Zn和Sn。这样,能够有效减少沟道层的缺陷,从而有效改善了薄膜晶体管的整体稳定性。


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