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LANTHANATED TUNGSTEN ION SOURCE AND BEAMLINE COMPONENTS 发明申请

2022-12-30 2600 1546K 0

专利信息

申请日期 2025-06-24 申请号 WOUS17032603
公开(公告)号 WO2017197378A1 公开(公告)日 2017-11-16
公开国别 WO 申请人省市代码 全国
申请人 AXCELIS TECHNOLOGIES INC
简介 An ion implantation system is provided having one or more conductive components comprised of one or more of lanthanated tungsten and a refractory metal alloyed with a predetermined percentage of a rare earth metal. The conductive component may be a component of an ion source, such as one or more of a cathode, cathode shield, a repeller, a liner, an aperture plate, an arc chamber body, and a strike plate. The aperture plate may be associated with one or more of an extraction aperture, a suppression aperture and a ground aperture.


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