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半导体结构、制备半导体结构的方法及其应用 发明授权

2023-07-02 1310 1140K 0

专利信息

申请日期 2025-07-09 申请号 CN201610365955.6
公开(公告)号 CN106024972B 公开(公告)日 2017-09-22
公开国别 CN 申请人省市代码 全国
申请人 清华大学
简介 本发明公开了半导体结构、制备半导体结构的方法及其应用。该方法包括:(1)提供衬底,所述衬底的上表面具有单晶结构;以及(2)在所述衬底的上表面通过溅射沉积,形成稀土氧化物类单晶层,以便获得所述半导体结构。由此,可以降低制备成本,简化制备工艺,并获得具有类单晶结构的稀土氧化物结构。


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