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一种钨镧合金中痕量稀土杂质元素的测定方法 发明授权

2023-02-10 4670 424K 0

专利信息

申请日期 2026-03-10 申请号 CN201310464663.4
公开(公告)号 CN104515796B 公开(公告)日 2017-04-05
公开国别 CN 申请人省市代码 全国
申请人 国标(北京)检验认证有限公司
简介 本发明公开了属于合金检测技术领域的一种冶金产品中痕量稀土杂质的测定方法,具体涉及一种钨镧合金中痕量Y、Ce、Pr、Nd、Sm、Eu、Gd、Dy、Ho、Er、Tm、Yb和Lu的测定方法。本发明方法采用电感耦合等离子体质谱仪进行痕量稀土杂质元素的测定,精密度高、选择性好、检出限低,简单易操作,方法通过调节溶液pH值可以有效的去除钨基体并富集待测杂质元素,达到消除基体和背景干扰的目的,降低测定下限,能很好的满足钨镧合金中痕量稀土杂质(质量分数0.0005%~0.01%)的测定要求。


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