| 申请日期 | 2025-06-27 | 申请号 | CN201410498587.3 |
| 公开（公告）号 | CN104207794B | 公开（公告）日 | 2017-01-18 |
| 公开国别 | CN | 申请人省市代码 | 全国 |
| 申请人 | 中测测试科技有限公司 | ||
| 简介 | 本发明涉及X射线参数测量仪，具体涉及一种测量乳腺钼靶X射线多参数的传感器阵列及其测量方法，包括电路板(1)和过滤盖(2)，在电路板(1)上设有由三个SI PIN二极管组成的探测器阵列(3)，在所述三个SI PIN二极管的表面加有稀土层，所述过滤盖(2)上位置与电路板(1)上探测器阵列相适应处设有三个过滤孔(4)，所述三个过滤孔(4)的厚度相互不等，所述电路板(1)上有三个SI PIN的信号引出端口。本发明解决现有技术中针对乳腺钼靶X射线装置无法通过一次曝光测量管电压、半值层、剂量和曝光时间的问题，且本发明的测量方法操作简单，准确度高，安全性好，以及测量成本低。 | ||
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