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氧化钇材料、半导体制造装置用部件及氧化钇材料的制造方法 发明授权

2023-02-09 1560 750K 0

专利信息

申请日期 2026-03-10 申请号 CN200910007179.2
公开(公告)号 CN101508567B 公开(公告)日 2016-10-05
公开国别 CN 申请人省市代码 全国
申请人 日本碍子株式会社
简介 本发明提供一种氧化钇材料及其制造方法,能够进一步提高氧化钇材料的机械性强度。作为半导体制造装置用部件的静电卡盘(20)的基体(22)是由氧化钇材料构成,该氧化钇材料至少包括:氧化钇(Y2O3)、碳化硅(SiC)、以及含有RE(稀土类元素)、Si、O和N的化合物。该氧化钇材料含有以RE为La、Y等的RE8Si4N4O14作为含RE(稀土类元素)、Si、O和N的化合物。该RE8Si4N4O14是由作为原料的主成分的Y2O3和作为原料添加的Si3N4等在烧结过程中生成的化合物。通过氧化钇中含有的SiC及该化合物来提高机械性强度和体积电阻率。


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