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SiAlON薄膜及其制备方法 发明授权

2023-07-19 3250 767K 0

专利信息

申请日期 2025-07-17 申请号 CN201210563617.5
公开(公告)号 CN103880432B 公开(公告)日 2015-10-28
公开国别 CN 申请人省市代码 全国
申请人 中国科学院上海硅酸盐研究所
简介 本发明提供了一种SiAlON薄膜,以Si、Al、O和N的总原子数为基准计,该薄膜包含:27.7-35.6%的Si,10.8-13.4%的Al,19.3-57.5%的O,以及3.9-31.7%的N,所述薄膜还额外包含1-3%的以下附加金属元素:稀土元素、碱土金属、或其组合,以上百分数均为原子数百分比。本发明还提供了用来制备该薄膜的方法。


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