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光学光纤传感器自参考量化检测方法 发明申请

2023-06-16 3920 544K 0

专利信息

申请日期 2025-07-30 申请号 CN201410036539.2
公开(公告)号 CN103868896A 公开(公告)日 2014-06-18
公开国别 CN 申请人省市代码 全国
申请人 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
简介 本发明公开了一种光学光纤传感器自参考量化检测方法,属于光学信号检测技术领域。解决了光学光纤传感器量化检测需另设参考信号源且标准样易变,导致量化精度低,易受环境影响且检测成本高的技术问题。本发明的光学光纤传感器自参考量化检测方法是在光学光纤传感器的光纤中掺杂稀土铥离子,并以稀土铥离子在685nm处的荧光发射光谱的荧光信号强度作为待测物的荧光信号强度的标准参考信号强度。本发明将自参考光学光纤传感器与仪器系统结合,无需另设计标准信号参考源,简化了仪器系统的结构,降低了测试成本,使用掺杂的稀土离子的荧光信号强度为标准参考信号,提高了待测物量化检测的精确度和准确度,检测值稳定,不受环境干扰。


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