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一种测量乳腺钼靶X射线多参数的传感器阵列 实用新型

2023-04-05 2090 510K 0

专利信息

申请日期 2025-07-22 申请号 CN201420556422.2
公开(公告)号 CN204133486U 公开(公告)日 2015-02-04
公开国别 CN 申请人省市代码 全国
申请人 中测测试科技有限公司
简介 本实用新型涉及X射线参数测量仪,具体涉及一种测量乳腺钼靶X射线多参数的传感器阵列,包括电路板(1)和过滤盖(2),在电路板(1)上设有由三个SI-PIN二极管组成的探测器阵列(3),在所述三个SI-PIN二极管的表面加有稀土层,所述过滤盖(2)上位置与电路板(1)上探测器阵列相适应处设有三个过滤孔(4),所述三个过滤孔(4)的厚度相互不等,所述电路板(1)上有三个SI-PIN的信号引出端口。本实用新型解决现有技术中针对乳腺钼靶X射线装置无法通过一次曝光测量管电压、半值层、剂量和曝光时间的问题,且本实用新型的测量方法操作简单,准确度高,安全性好,以及测量成本低。


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