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场效应晶体管及其形成方法 发明申请

2023-11-30 4700 1346K 0

专利信息

申请日期 2025-06-25 申请号 CN201310260078.2
公开(公告)号 CN103337519A 公开(公告)日 2013-10-02
公开国别 CN 申请人省市代码 全国
申请人 清华大学
简介 本发明公开了一种场效应晶体管及其形成方法,其中该场效应晶体管包括:衬底;形成在衬底之上的超薄绝缘体层,超薄绝缘体层的材料为单晶稀土氧化物或单晶氧化铍;形成在超薄绝缘体层之上的超薄半导体单晶薄膜;以及形成在超薄半导体单晶薄膜之上的栅堆叠,栅堆叠包括栅介质以及形成在栅介质上方的栅电极。本发明的场效应晶体管及其形成方法具有结构简单、工艺兼容、关态电流低、散热好等优点。


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