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稀土掺杂倍半氧化物亚微米X射线成像用单晶薄膜闪烁屏及其制备方法 发明申请

2023-10-08 4120 403K 0

专利信息

申请日期 2025-08-08 申请号 CN201910139028.6
公开(公告)号 CN109881251A 公开(公告)日 2019-06-14
公开国别 CN 申请人省市代码 全国
申请人 上海大学
简介 本申请公开了稀土掺杂倍半氧化物亚微米X射线成像用单晶薄膜闪烁屏及其制备方法。所述单晶薄膜闪烁屏是在合适的单晶衬底上,生长稀土掺杂倍半氧化物单晶薄膜闪烁屏,其结构表述为:(Lu1‑x‑yMxREy)2O3。其中:0≤x≤1, 0<y≤0.3。RE代表Eu、Tb、Pr中的一种或多种,M代表Sc、Y、La、Gd、Hf中的一种或多种。本申请的单晶薄膜闪烁屏具有重密度,其中Lu2O3密度达9.42g/cm3,Eu在611nm的窄带发射与CCD响应曲线的匹配。本申请的制备方法不存在原料污染的问题,单晶薄膜质量高,光学性质和闪烁性能高。故本申请的单晶薄膜闪烁屏可以广泛应用于科学研究、医疗、安检、工业等领域中。


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