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一种稀土Er掺杂SnO2薄膜晶体管及其制备方法 发明申请

2023-12-18 2980 343K 0

专利信息

申请日期 2025-06-27 申请号 CN201811649070.4
公开(公告)号 CN109742152A 公开(公告)日 2019-05-10
公开国别 CN 申请人省市代码 全国
申请人 复旦大学
简介 本发明属于薄膜晶体管技术领域,具体为一种稀土Er掺杂SnO2薄膜晶体管及其制备方法。本发明采用磁控溅射法在SiO2介质层上制备ErSnO沟道层,源漏电极采用ITO透明导电薄膜。本发明将稀土Er材料通过物理的方法掺杂进SnO2半导体中,有效地抑制了SnO2半导体的缺陷态。制备的场效应薄膜晶体管器件综合性能优良,器件场效应迁移率大于3.0 cm2V‑1s‑1,开关比大于106,阈值电压大于‑9 V,亚阈值摆幅小于1 Vdec‑1,具有广阔的工业应用前景。


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