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基于单色连续激光测量固体中稀土离子辐射性质的方法 发明授权

2023-02-23 1840 334K 0

专利信息

申请日期 2025-06-28 申请号 CN201110102562.3
公开(公告)号 CN102262080B 公开(公告)日 2012-12-05
公开国别 CN 申请人省市代码 全国
申请人 哈尔滨工业大学
简介 基于单色连续激光测量固体中稀土离子辐射性质的方法,涉及一种测量固体中稀土离子辐射性质的方法,它解决了现有的测量稀土离子的辐射性质的方法复杂、以及由于激发稀土离子的效率低导致测量精度低的问题。其方法:激光器发出的连续激光入射先后经一号偏振棱镜、电光调制器、二号偏振棱镜、一号透镜后会聚至待测稀土样品,激发待测稀土样品产生荧光,荧光经二号透镜会聚至光谱仪,获得分光光束;采用光电探测器探测分光光束,获得探测结果,建立探测结果的衰减曲线;对所述探测结果的衰减曲线进行拟合,获得稀土离子辐射寿命。本发明适用于固体中稀土离子辐射性质的测量。


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