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method for assay of the purity of a compound rare earth, method for assay of the concentration of t 发明申请

2023-07-31 3380 421K 0

专利信息

申请日期 2025-07-07 申请号 BRPI0710343
公开(公告)号 BRPI0710343A2 公开(公告)日 2011-08-09
公开国别 BR 申请人省市代码 全国
申请人 SHIRE INT LICENSING BV
简介 An assay for analytically determining the amount of an impurity in a solid sample is provided. This X-ray diffraction method preferably uses the Rietveld refinement.


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