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一种基于双波长光源的荧光强度比测温方法 发明申请

2023-04-07 4790 669K 0

专利信息

申请日期 2025-08-17 申请号 CN201811377326.0
公开(公告)号 CN109540326A 公开(公告)日 2019-03-29
公开国别 CN 申请人省市代码 全国
申请人 哈尔滨工业大学
简介 一种基于双波长光源的荧光强度比测温方法,本发明涉及一种基于双波长光源的荧光强度比测温方法。本发明的目的是为了解决现有的稀土离子荧光强度测温技术在较高温度区间内的相对灵敏度会急剧衰减的问题,本发明在303到783K的温度范围内,记录稀土Tb3+离子在氙灯经过分光后的310nm和378nm的光源激发下所发出的中心波长位于545nm的绿色荧光的强度比,该强度比和温度之间的函数关系即为测温曲线,可以用来测量未知环境的温度。基于该方法,能够在较高温度区间内获得更加灵敏的温度响应,明显优于目前常规光学方法所能达到的灵敏度,本发明应用于荧光强度比测温领域。


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