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用于集成电路引线框架的合金材料及其制备方法 发明授权

2023-02-28 1050 296K 0

专利信息

申请日期 2025-06-24 申请号 CN200710036662.4
公开(公告)号 CN101008056B 公开(公告)日 2010-04-07
公开国别 CN 申请人省市代码 全国
申请人 华东理工大学
简介 本发明涉及一种用于集成电路引线框架的合金材料及其制备方法。所说的合金材料由单质铜、单质钒和稀土元素组成,以所述铜合金的总重量为100%计,钒的含量为0.05wt%~5.00wt%,稀土元素的含量为0.01wt%~1.00wt%。其中,所说的稀土元素是指:镧系中各元素、锕系中各元素、钪元素或钇元素,或两种或两种以上所说元素的混合。本发明首先制得中间合金Cu-V和Cu-RE,然后将单质铜在真空条件下熔化,并将制得的中间合金按照一定的重量分数添加到单质铜熔体中,经保温、浇注和铸后处理得Cu-V-RE合金。本发明制备的铜合金(Cu-V-RE),其抗拉强度可达580Mpa,导电率可达80%IACS。


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