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AlN HETEROEPITAXIAL CRYSTAL, METHOD FOR PRODUCING THE SAME, BASE SUBSTRATE FOR GROUP III NITRIDE F 发明申请

2023-07-10 2380 1455K 0

专利信息

申请日期 2026-04-24 申请号 WOJP09050799
公开(公告)号 WO2009096270A1 公开(公告)日 2009-08-06
公开国别 WO 申请人省市代码 全国
申请人 CANON ANELVA CORPORATION; DAIGO Yoshiaki; ISHIBASHI Keiji
简介 Disclosed is a method for producing a highly crystalline high-quality AlN heteroepitaxial crystal by sputtering. Specifically, after exposing the surface of a sapphire substrate to a plasma using a nitrogen gas or a mixed gas of a nitrogen gas and a rare gas, a reactive sputtering is performed using a nitrogen gas or a mixed gas of a nitrogen gas and a rare gas, while maintaining vacuum, so that AlN is heteroepitaxially grown on the surface of the sapphire substrate.


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