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一种高电位梯度ZnO厚膜压敏电阻的制备方法 发明申请

2022-12-28 4560 389K 0

专利信息

申请日期 2025-06-26 申请号 CN200810035084.7
公开(公告)号 CN101246770A 公开(公告)日 2008-08-20
公开国别 CN 申请人省市代码 全国
申请人 华东师范大学
简介 一种高电位梯度ZnO厚膜压敏电阻的制备方法,属于压敏电阻材料制造的技术领域。该方法用丝网印刷工艺在Al2O3陶瓷片基底上依次沉积膜状物:底电极、ZnO压敏电阻体和顶电极,再将电极引出线粘制在底、顶电极的端面上,其特征在于,制作ZnO压敏电阻体的浆料内含有稀土金属氧化物Y2O3;ZnO压敏电阻体采用厚膜结构,用分步多次丝网印刷使多层薄膜叠成厚膜。有工艺简单,易于操作,烧结温度低,设备要求低,制备成本低,能制备高性能的ZnO厚膜压敏电阻的优点。


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