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低温烧结的温度稳定型多层陶瓷电容器介质材料 发明申请

2023-11-22 3310 517K 0

专利信息

申请日期 2026-04-18 申请号 CN200610011784.3
公开(公告)号 CN1837145A 公开(公告)日 2006-09-27
公开国别 CN 申请人省市代码 全国
申请人 清华大学
简介 本发明涉及一种低温烧结的温度稳定型多层陶 瓷电容器介质材料,属于电容器材料技术领域。所述介质材料 由钛酸钡主料和二次添加剂组成,包括 Nb2O5、 Co3O4、或它们的固溶物、ZnO、 B2O3、或它们的化合物、稀土元素和钇中一种或一种以上的氧 化物。在880℃到950℃范围内烧结,晶粒尺寸为100~600nm, 室温介电常数1000~2500,容温变化率≤±15%,室温介电损 耗小于2%,绝缘电阻率大于 1011Ω·cm,满足X7R及X8R 性能要求。当烧结温度低于900℃时,使用纯银作为MLCC的 内电极,可大幅度降低多层陶瓷电容器的成本。该材料适用于 薄层、纯银内电极多层陶瓷片式电容器的制造,具有广阔的发 展前景。


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