客服热线:18202992950

半导体集成电路用绝缘膜研磨剂组合物及半导体集成电路的制造方法 发明申请

2023-10-20 1700 1355K 0

专利信息

申请日期 2025-07-09 申请号 CN03821131.9
公开(公告)号 CN1679145A 公开(公告)日 2005-10-05
公开国别 CN 申请人省市代码 全国
申请人 旭硝子株式会社; 清美化学股份有限公司
简介 为了对应用于半导体集成电路的、由具有C-Si 键及Si-O键的有机硅材料形成的绝缘膜的表面进行研磨,采 用包含水以及选自稀土类氢氧化物、稀土类氟化物、稀土类氟 氧化物、氧化铈以外的稀土类氧化物及它们的复合化合物的1 种或1种以上的特定稀土类化合物的粒子的研磨剂组合物或其 中还含有氧化铈粒子的研磨剂组合物。这样可形成无或较少产 生裂缝、擦痕及膜剥离等缺陷的高品质的研磨表面。


您还没有登录,请登录后查看下载地址


反对 0举报 0 收藏 0 打赏 0评论 0
下载排行
网站首页  |  关于我们  |  联系方式  |  使用协议  |  版权隐私  |  网站地图  |  排名推广  |  广告服务  |  积分换礼  |  网站留言  |  RSS订阅  |  违规举报  |  京ICP备2021025988号-4