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一种制造制品的方法包括提供用于蚀刻反应器的环。随后,执行离子辅助沉积(IAD)以在环的至少一个表面上沉积保护层,其中,保护层是抗等离子体的稀土氧化物膜,所述抗等离子体的稀土氧化物膜具有小于300微米的厚度以及小于6微英寸的平均表面粗糙度。
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