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本发明公开了一种制备稀磁半导体薄膜的方法,该方法包括:选择一III族氮化物半导体薄膜材料;在该半导体薄膜材料表面采用双能态离子注入法注入稀土金属离子;将注入稀土金属离子后的样品送入快速退火炉在氮气氛中退火。利用本发明,获得了具有较好的磁学性能和半导体性能的稀磁半导体薄膜。
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