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为了对应用于半导体集成电路的、由具有C-Si 键及Si-O键的有机硅材料形成的绝缘膜的表面进行研磨,采 用包含水以及选自稀土类氢氧化物、稀土类氟化物、稀土类氟 氧化物、氧化铈以外的稀土类氧化物及它们的复合化合物的1 种或1种以上的特定稀土类化合物的粒子的研磨剂组合物或其 中还含有氧化铈粒子的研磨剂组合物。这样可形成无或较少产 生裂缝、擦痕及膜剥离等缺陷的高品质的研磨表面。
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